解析技術は品質の安定化や不良解析に用いられるのが通常ですが、当社ではお客様が常々めっきについて困っている事、疑問に思っている事にお答えしたいと思っています。
具体的には不良解析、めっき被膜評価、成分分析などのめっきに関する様々なご要望にお応えできると思いますので、有償にはなりますがお気軽にお問い合わせ頂ければと考えております。

その中でも「どのような元素でめっきされているの？」「異常が解らない時はどうするの？」などの場合には今回紹介します、『走査型電子顕微鏡・エネルギー型蛍光X線分析装置（通称SEM・EDS）』を用いて解析します。
上記の装置は金属などの導体、IC、酸化物などの半導体、高分子材料やセラミックスなどの絶縁物の個体、紛体、薄膜などが試料となります。

≪こんな時に使えます≫
・顕微鏡、マイクロスコープでは観察しにくい
・倍率が低くて見えない
・凸なのか？凹なのか？解釈に困る…
・光が反射して観察できない
・観察した部分の組成元素も一緒に知りたい
・どの部分にどんな元素が存在しているのか知りた

実際の観察例や比較写真などは当社でお客様に向けて毎月1回発行しております『ヒキフネレポート』に記載されておりますので、お問い合わせください。