めっき厚の測定には、Ｘ蛍光線測定器で測定するケースが多いですが、Ｘ線の当たり方でめっき厚がバラツク場合があります。そのバラツキは形状にも異なりますが、数μｍから測定不能となるまで様々です。

電気めっきの場合、高電流箇所と低電流箇所ではめっき厚が大きく異なります。
特にエッジ部分などは、Ｘ蛍光線測定器では測定できないケースが多々あります。

この様な場合、めっき厚を測定したい箇所の断面によるめっき厚測定が可能です。
めっき厚を測定したい箇所を刃物で切断し、その断面をマイクロスコープ又は走査型電子顕微鏡を用いてめっき膜厚を測定します。測定箇所を増やす事で、製品のめっきバラツキがどれだけ生じているかが解かります。

寸法不具合が生じた場合、素材要因なのか？めっき膜厚要因なのか？その様な不具合の場合などは、断面観察によるめっき厚測定が有効です。

耐食性能もめっき厚が大きく影響します。耐食性試験で不合格となった場合、原因追求を進める上で、めっき厚が図面通りに析出しているのかを確認する事も可能です。

当社は全て社内で解析が可能です。

他社でめっき加工した製品も解析をお受けします。（有料）