ZEISS CONTURA 三次元座標測定機（CMM）– 工場向け高精度寸法・公差測定ソリューションは、CMM / 産業用計測 / 3D寸法測定 / 幾何公差検査 / 品質管理 / 接触測定 / 光学測定 / 高精度計測の分野に属する装置で、ZEISS Industrial Quality Solutionsが精密機械、自動車・EV、金型、機械製造、航空宇宙、医療機器など、高精度な寸法管理を必要とする製造業向けに開発しています。

ZEISS CONTURAはブリッジ型CMMで、技術図面やCADデータに基づき、部品の寸法、位置、形状、距離、幾何公差を測定・評価します。

ZEISS VAST XT gold、VAST XTR gold、VAST XXT、DotScan、ViScan、LineScanなど複数のセンサーに対応し、接触測定、スキャニング、一部の光学測定を同一プラットフォームで実施できます。

仕様により測定範囲はX軸700～1,200 mm、Y軸700～2,400 mm、Z軸600～1,000 mm。長さ測定精度は1.4 + L/350 µmから、最大ワーク重量は約730～1,200 kgです。

測定ソフトウェアZEISS CALYPSOを使用し、測定プログラム作成、公差評価、検査手順管理、結果レポート作成を支援します。

主な特長
高精度な寸法・公差測定。
接触、スキャニング、光学測定に対応するマルチセンサー構成。
ZEISS VASTスキャニング技術による多数点データ取得。
複数の測定範囲・積載能力を用意。
ZEISS CALYPSOによる測定・解析・レポート作成。
主な対象
精密機械加工企業。
CNC加工工場。
自動車・EV部品メーカー。
Tier 1・Tier 2サプライヤー。
エンジン、トランスミッション、ギアメーカー。
金型・治具メーカー。
機械・航空宇宙・医療機器メーカー。
品質管理・計測部門。
R&Dセンター。
FDI企業。
GD&T検査や測定データのトレーサビリティを必要とするOEM。
導入時の主な検討項目
ワークの種類、寸法、重量。
図面・CADデータ。
寸法公差・幾何公差。
測定項目と測定方法。
センサー構成。
測定位置へのアクセス性。
治具方法。
検査数量と測定サイクル。
レポート・データ連携要件。
温度および設置環境。
主な仕様
メーカー：ZEISS Industrial Quality Solutions
製品：ZEISS CONTURA
タイプ：ブリッジ型CMM
測定範囲 X：700～1,200 mm
測定範囲 Y：700～2,400 mm
測定範囲 Z：600～1,000 mm
精度：1.4 + L/350 µmから
最大ワーク重量：730～1,200 kg
接触測定：対応
スキャニング：対応
光学測定：構成により対応
マルチセンサー：対応
ソフトウェア：ZEISS CALYPSO
GD&T検査：対応
顧客から必要な情報
部品名・部品種類。
図面またはCADデータ。
寸法・重量・材質。
測定項目。
寸法公差・幾何公差。
GD&T規格。
検査数量・頻度。
接触または光学測定の要件。
レポート・トレーサビリティ要件。
設置環境。
教育・技術支援の要件。
導入前の確認

構成選定前に、ワーク寸法、重量、形状、公差、測定項目を明確にする必要があります。また、プローブのアクセス性、治具、環境条件、必要精度との適合性を確認します。

量産運用前には、試験測定を行い、繰り返し精度、測定時間、レポート形式を評価することが推奨されます。

導入メリット

ZEISS CONTURAは、3D座標測定・スキャニング・マルチセンサー・ZEISS CALYPSOを組み合わせ、さまざまな部品の寸法・幾何公差管理を支援します。

検査工程の標準化、寸法偏差の検出、GD&T評価、製造工程管理に必要な品質データの取得に適しています。

ZEISS CONTURAは、精密機械、自動車・EV、金型、機械製造、航空宇宙、医療機器、OEM/Tier 1・Tier 2サプライチェーンなど、高精度な寸法・公差管理を必要とする企業に適したCMMソリューションです。