ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD.
最終更新日: 2025-09-08
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1947年に設立されたエスペックは、電子機器や工業製品などの耐久性、信頼性を確認すために欠かせない「環境試験」のリーディングカンパニーとして、技術発展を支えてきました。これまで培ってきた環境試験のノウハウを生かした総合ソリューションで、
2015年より、タイをはじめとするASEAN諸国に進出されている日系企業様のサポート強化のため、ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD.を開設しました。
日本人が駐在し、ASEAN諸国地域の現地代理店と連携を図ることで、幅広いサポートを行っています。
６つのサービス
受託試験や製品購入、アフターサービスまでを日本語でサポートします。
・受託試験・コンサルティング
標準的な恒温槽はもちろん高度試験槽などの特殊設備も備え、半導体の評価試験から航空機搭載機器の評価、二次電池の安全性試験まで多様な品質評価・信頼性評価業務を行っています。
・製品導入・購入のご相談
幅広いラインナップの製品を取り扱っております。
日本人が駐在し、ASEAN諸国の現地代理店と協力体制を取っております。
ご購入に関するご相談、製品ご購入後の操作方法、製品の修理などのお問い合わせは、カスタマーサービスにお問い合わせください。
日本人スタッフが日本語にてご対応致します。
・部品・消耗品
保守契約サービスを提供しております。保守サービスの内容としましては、機器確認、予防保全、故障時の修復処置などです。お客様のニーズに合わせて2つのプランでご提供しておりますので、是非ご相談下さい。
・付帯設備
当社製品を安心して、最良の条件でご使用いただくために、製品のメンテナンスだけでなく、試験器周辺機器の販売・ご提案から、移設作業、関連設備の工事・作業まであわせて行います。
・メンテナンス・保守・点検
・校正
400℃におけるエレクトロマイグレーション評価
半導体デバイス寿命は、この微細加工や新材料に依存するため、より過酷な寿命加速条件下でのエレクトロマイグレーション評価が重要になっています。
この寿命加速要因となる温度と電流ストレスによる高精度な測定に、デバイス寿命を導くために必要なパラメータを求める解析ソフトを搭載。
「エレクトロマイグレーション評価システムAEM―2000」は、先端評価から生産管理まで幅広くご使用いただけるよう、操作性・信頼性・データ解析の容易さを高め、評価ニーズに的確にお応えするシステムです。
STCピーク出力電流の印可が可能な温度サイクル（TC）試験システム
太陽電池モジュールの規格であるJIS C 8990:2009では温度サイクル（TC）試験中に「＋25℃以上でＳＴＣピーク出力電流を印可する」ことが要求されています。
太陽電池モジュール温度サイクル（TC）試験システムは、試験時の安全性やパネルセッティングの容易性を考慮した「大型温湿度槽」と、STCピーク出力電流相当を印加でき、システム全体を制御する「電流負荷計測システム部」をシステムアップすることで、J 温度サイクル（TC）試験を容易に実施することができます。
ウェーハの大口径化、微細化、高集積化に伴い、単体トランジスタの信頼性評価の重要性が高まっています。
このシステムは、高精度な電圧・電流印加とFET単体トランジスタの電気的特性および継続的変化を測定し、1台のPCでデータ収集、モニタリングなどの一元管理が可能です。
「容量(C)温度特性評価システム」は環境試験装置の温度ステップ制御の自動化と、コンデンサの静電容量、誘電正接(tanδ)、インピダンスの多チャンネル測定の自動化を実現しました。これにより、任意の温度環境下での周波数特性や経時変化を自動データ収録することができます。また、コンデンサの特性評価のみならず、各種電子部品やプリント基板、絶縁材料の評価にも幅広くご利用いただけるとともに、お手持ちの環境試験装置との組み合わせにもお応えいたします。
特長
・温度特性評価試験: 20ステップまでの温度変化と同期させ、特性データの自動収録を行うことができます。
・周波数特性評価試験: 温度・湿度環境下で、周波数を変化させながら各周波数における特性データを自動収録することができます。
・寿命特性(定値運転)試験: 温度・湿度環境下で、特性の時間的変化を自動にて測定、データ収録することができます。
モニタードバーンインシステムMBIは、デバイスの動作を高温下で行い、デバイスの出力値と期待値を比較しながらサンプルの良否を判定します。
メモリとロジックに対して必要なテストパターンを容易 に作成でき、高い生産性をご提供します。またパターンジェネレータ・ドライバ・チャンバーはそれぞれモジュール化しており、信頼性試験からスクリーニングまで、幅広く最適なテスト環境に対応します。
半導体デバイスやアッセンブリされ電子機器に温度や種々の電気的ストレスを加え、表面汚染や入力回路劣化のある半導体デバイスの除去に効果を発揮するバーンインシステムです。
高密度の半導体デバイスの信頼性評価や大量スクリーニング用の装置です。優れた温度分布性能と許容発熱負荷特性を備え、バーンインボードの大容量化(33％アップ)とコンパクト設計による省スペース化を同時に実現しました。 オゾン層破壊係数ゼロのHFCフロンの使用、換気制御にダンパ開閉制御方式を採用し、電子拡張弁による冷媒流量の制御等により、大幅な省エネルギー化を実現。さらに全型成型部品の材質マーキングを行って資源のリサイクル化が可能です。
不揮発性メモリ評価システムはフラッシュメモリやFeRAMなどの不揮発性メモリの評価試験を行うモニターバーンインシステムです。
フラッシュメモリでは複雑なアルゴリズムを発生できるパターン発生機能とバッドブロック管理機能、Vth分布測定機能などにより、テスターでのテスト機能の移管が可能です。また、今後新しく開発される不揮発性メモリのテストに対応できるよう拡張性と柔軟性をコンセプトとし、不揮発性メモリの研究開発から量産までの試験、検査用の装置としてお役立て頂けます。
特長
・フラッシュメモリの消去/書き込みサイクル試験を大量かつ高速で処理
・NAND型フラッシュメモリのブロック管理に対応
| 会社名 |
ESPEC ENGINEERING (THAILAND) CO., LTD. (エスペック エンジニアリング タイランド) |
自社ホームページURL | http://espec.co.th/ |
|---|---|---|---|
| 住所 |
タイ チョンブリー県 Amphur Panthong
[地図を見る] |
担当者 | 森高 |
| 電話番号 | +66-38-109353 | FAX番号 | +66-38-109356 |
| 資本金 | 12,500,000 THB | 社員数 | 30人 |
| 年間売上高 | 485,000,000 THB | エミダス会員番号 | 94319 |
| 産業分類 | 家電 / 電子部品 / 輸送機器 | ||
| 主要三品目 |
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